Loading presentation...

Present Remotely

Send the link below via email or IM

Copy

Present to your audience

Start remote presentation

  • Invited audience members will follow you as you navigate and present
  • People invited to a presentation do not need a Prezi account
  • This link expires 10 minutes after you close the presentation
  • A maximum of 30 users can follow your presentation
  • Learn more about this feature in our knowledge base article

Do you really want to delete this prezi?

Neither you, nor the coeditors you shared it with will be able to recover it again.

DeleteCancel

Graphene based nanostructures

Grafén nanostruktúrák vizsgálata
by

David Lakatos

on 15 May 2009

Comments (0)

Please log in to add your comment.

Report abuse

Transcript of Graphene based nanostructures

Grafén nanostruktúrák vizsgálata Lakatos Dávid

konzulens: Neumann Péter Lajos
Elektronikus Eszközök Tanszéke
2009 május 15. Grafén és CNT Grafén méhsejt alakú rácsszerkezet

grafit egy rétege

grafitban a síkok távolsága 3,35A - ennyi a grafén vastagsága

2004-ig a szén instabil megjelenési formájának tartották

különleges sávszerkezet (zero-gap): a konduktancia és valencia sáv egy pontban metszi egymást

az elektronok mozgási energiájuktól függetlenül mozognak Fermi-sebességgel feltekert grafén = CNT (királis vektor)

lehet vezető és félvezető tulajdonságú is

szerkezet

tulajdonságok
CNT - Carbon Nano Tube Eljárás bemutatása 2004: TU Manchester nanotechnológia részlege egy egyszerű módszerrel, melyhez optikai mikroszkó elégséges grafént állít elő 1. HOPG (Highly Oriented Pirolitic Graphite) Grafén alapú SET-elem Mikro- és nanoelektronika 2. Ragasztószalagra HOPG felvitele, majd
iterálva grafitrétegeke tépése 3. Si chipre a ragasztószalagon maradt grafit (és remélhetőleg némi grafén) ragasztása Vizsgálati módszerek Optikai mikroszkóp AFM - Atomic Force Microscope AFM egy anyagvizsgálati módszer.

a.) kontakt mód:
AFM tüskéje érintkezik a felülettel.

Állandó magasságba szabályozzuk a tűt

b.) tapogató mód:

AFM tüske nem érintkezik a felülettel (nem destruktív!).

Rezonancia frekvenciáján tartjuk rezgésben a tűt

amikor a felülethez közel ér a van der Waals erő elhangolja a rezgést, és ezt szabályozzuk vissza
bifokális lencse rendszer, adott konfigurációban max. 500x nagyítás

grafén struktúrák rácsszerkezete nanométer alatti tartományban van, ezért optikai mikroszkóppal nem vizsgálhatóak!

Novoselov mintapreparálásában ez volt az áttörés: meghatározott szilícium-dioxid réteg esetén különleges diffrakciós folyamat révén megkülönböztethető az egy és a több rétegű grafit Minta kész vizsgálatra! Raman-spektroszkópia Mérési eredmények Beazonosítás optikai mikroszkóp alatt Ellenőrzőmérés AFM alatt "A" struktúra

vastagság 0,355 nm

kontaktálásra alkalmas

egy grafittömbből szakadt le 2 párhuzamos grafén darab tű beállítása árnyéka és referenciának szolgáló objektum segítségével

lézer "spot" is segítségünkre lehet "B" struktúra

vastagsága 0,380 nm

kontaktálásra alkalmas, akár 4 irányból is

de nagyon kicsit, 5 um a legynagyobb kiterjedése Kontaktálás Volfrám tű Iridium olvadék kerámia Indium tüske optikai mikroszkóp alatt "A" struktúra kontaktusai "B" struktúra kontaktusai rövidre záródott a struktúra, így nincsen lehetőség karakterisztikájának megmérésére Transzport karakterisztika mérése Keithley Sourcemeter 2400 mérőműszer, erre a célra tökéletes

két módban: ramp és linear

nemlineáris I(U) karakterisztika


okok a nemlinearitásra:

Indium-oxid félvezető

??

Kutatás folytatása ezen okok felderítésére, ill.

szimulátor építés amely kvantum számítások alapján modellezi a grafénban a vezetést Köszönöm a figyelmet! hibák:
tű hegy kopása (fantom kép)

tű hegyének képe jelenik meg a képen Mikroelektronika Nanoelektronika a ma használt építőelemeket kisebbe megépíteni

új eddig nem használt tulajdonságait kihasználni az anyagoknak
Full transcript