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METROLOGÌA

terminologia
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on 6 December 2013

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1889 en donde se definieron los patrones básicos de medida y de esta manera se han reunido progresivamente las organizaciones mencionadas de acuerdo al constante avance científico y tecnológico para estudiar y modificar los patrones.

La ISO se crea el 23 de febrero de 1947 163 países inscritos, cada país cuenta con una secretaría central en Ginebra que coordina el sistema.
Ley 155 de 1959 por la cual se dictan algunas disposiciones sobre prácticas comerciales restrictivas, enuncia en uno de sus artículos "Art 3°. El Gobierno intervendrá en la fijación de normas sobre pesas y medidas…
Decreto 767 de 1964, el Gobierno reconoció al Instituto Colombiano de Normas Técnicas Icontec como su organismo asesor y coordinador en el campo de la normalización. )
Decreto 1731 de 1967 Por el cual se dictan normas sobre pesas y medidas, enuncia "ARTÍCULO 1o. Adoptase como sistema obligatorio de pesas y medidas en el territorio de la República, el sistema Métrico Decimal denomina Sistema Internacional de Unidades.
ARTÍCULO 2o. De conformidad con el Decreto 767 de 1964, el Ministerio de Fomento oficializará con carácter obligatorio, las normas técnicas Icontec del sistema adoptado, previa recomendación de la Comisión nacional de Normas Técnicas.
ARTÍCULO 3o. Declárense patrones oficiales de longitud, masa y volumen los siguientes que posee el Laboratorio de Metrología de Propiedad del Consejo de Metrología. Metro patrón. Metro de acero inoxidable, según la certificación que posee el Consejo de Metrología,Expedida por el National Bureau of Standard de Washington.
Metrología
Marco legal
Su origen

1799 se adoptan por el gobierno de Francia los patrones de metro y kilogramo elaborados en aleaciones de Iridio y Platino.
20 de Mayo de 1875 se realiza la convención del metro o el tratado del metro.
organizaciones establecidas para velar y controlar la preservación y la estandarizaciòn del sistema métrico, estas fueron la conferencia general de pesos y medidas (CGPM), la oficina internacional de pesos y medidas el (BIPM), y el comité internacional de pesos y medidas (CIPM).
Ley 33 de 1905: "Art. 1º Desde la vigencia de esta Ley es obligatorio en todos los asuntos oficiales y comerciales y en todos los actos y contratos que tengan lugar en el territorio de la República, el uso de las pesas y medidas del sistema métrico decimal francés,…"
Art. 4º Se prohíbe el uso público de cualesquiera pesas y medidas distintas de las autorizadas en la presente Ley.
Art.5º Las corporaciones municipales harán poner un sello a las pesas y medidas

Decreto 3464 de 1980 que dice artículo 1 del Decreto 3464 de 1980 adoptó el sistema internacional de Unidades-SI.
Decreto 2152 de 1992: Por el cual se reestructura el Ministerio de Desarrollo Económico,
Decreto 2153 de 1992: Por el cual se reestructura la Superintendencia de Industria y Comercio y se dictan otras disposiciones.
Decreto 2269 de 1993: Por el cual se organiza el sistema nacional de normalización, certificación y metrología
Decreto 300 de 1995: por el cual se establece el procedimiento para verificar el cumplimiento de las normas técnicas colombianas oficiales obligatorias y los reglamentos técnicos en los productos importados.
Decreto 1112 de 1996: por el cual se crea el Sistema Nacional de Información sobre Medidas de Normalización y Procedimientos de Evaluación de la Conformidad
Terminología
• Metrología:es la materia matemática y técnica que estudia las mediciones de las magnitudes garantizando su normalización mediante la trazabilidad. Acota la incertidumbre en las medidas mediante un campo de tolerancia. Incluye el estudio, mantenimiento y aplicación del sistema de pesos y medidas. Actúa tanto en los ámbitos científico, industrial y legal, como en cualquier otro demandado por la sociedad. Su objetivo fundamental es la obtención y expresión del valor de las magnitudes empleando para ello instrumentos, métodos y medios apropiados, con la exactitud requerida en cada caso.
La metrología tiene dos características muy importantes; el resultado de la medición y la incertidumbre de medida.


Sensibilidad:es la relación de respuesta del instrumento de pesaje y la carga que la origina
Estabilidad: Aptitud de un instrumento de medición para mantener constante en el tiempo, sus características metrológicas.
Patrón (de medición): Medida materializada, instrumento de medición, material de referencia o sistema de medición destinado a definir, realizar, conservaron reproducir una unidad o uno o más valores de una magnitud para utilizarse como referencia.
PATRÓN INTERNACIONAL (de medición): reconocido por un acuerdo internacional para utilizarse internacionalmente coma base para asignar valores a otros patrones de la magnitud concerniente.
Trazabilidad: Propiedad del resultado de una medición o del valor de un patrón por la cual pueda ser relacionado a referencias determinadas, generalmente patrones nacionales o internacionales, por medio de una cadena ininterrumpida de comparaciones teniendo todas las incertidumbres determinadas.
Medir:Es por definición comparar una magnitud dada, con otra que se toma como unida y se observa cuantas veces esta contenida la primera en la segunda.


Antes del TLC:
Después del TLC
Decreto 2828 de 2006: por el cual se organiza el Sistema Administrativo Nacional de Competitividad.
Decreto 3257 de 2008: por el cual se modifica parcialmente el Decreto 2269 de 1993 y se dictan otras disposiciones.
Decreto 3523 de 2009 : "Artículo .1. Funciones Generales. de La Superintendencia de Industria y Comercio.
Decreto 4175 de 2011: Por el cual se escinden unas funciones de la Superintendencia de Industria, y Comercio, se crea el Instituto Nacional de Metrología y se establece su objetivo y estructura.
28 de Febrero de 2012 Entrada en vigencia del Instituto Nacional de Metrología (INM)
El 2 de Noviembre de 2011 mediante el Decreto 4175 se le da estructura legal y se crea institucionalmente el INM, y el 28 de febrero se inaugura de manera física con sede ubicado en el Centro Administrativa Nacional (CAN)
ACRÓNIMOS Y ABREVIACIONES
CGPM Conferencia General de Pesos y Medidas
CIPM Comité Internacional de Pesos y Medidas
BIPM Oficina Internacional de Pesas y Medidas
DNP Departamento Nacional de Planeación
INM Instituto Nacional de Metrología
OIML Organización Internacional para la Metrología Legal
ONAC Organismo Nacional de Acreditación de Colombia
PTB Instituto Nacional de Metrología de Alemania
SIC Superintendencia de Industria y Comercio
SNCA Subsistema Nacional de la Calidad
SIM Sistema Interamericano de Mediciones
• Calibración:Conjunto de operaciones que establecen, bajo condiciones especificas, la relación entre los valores de una magnitud indicados por un instrumento o sistema de medición, o los valores representados por una medida materializada y los valores correspondientes de la magnitud, realizados por los patrones.
• Ajuiste: (de un instrumento de medición)
Operación de llevar un instrumento de medición a un estado de funcionamiento adecuado para su uso.
• Magnitud medible: Atributo de un fenómeno, cuerpo o substancia que puede ser distinguido cualitativamente y determinado cuantitativamente.
• Principio de medición: Base científica de una medición.
• Método de medición: Secuencia lógica de operaciones, descrita de manera genérica, utilizada en la ejecución de las mediciones.
• Procedimiento de medición: Conjunto de operaciones, descrito específicamente, para realizar mediciones particulares de acuerdo a un método determinado.
• Resultado de una medición: Valor atribuido a un mensurando, obtenido por medición.

Notas:

1. Cuando se proporciona un resultado, se debe aclarar si se refiere a:

• la indicación
• al resultado no corregido
• al resultado corregido
• y si se trata de una media obtenida a partir de varias mediciones.

2. Una expresión completa del resultado de una medición incluye información acerca de la incertidumbre de la medición.


Resultado no corregido: Resultado de una medición antes de la corrección por error sistemático.
Resultado corregido: Resultado de una medición después de la corrección por error sistemático.
Repetibilidad de los resultados de las mediciones: Aptitud de un instrumento de medición para proporcionar indicaciones próximas entre sí par aplicaciones repetidas del misma mensurando baja las mismas condiciones de medición.
Notas:
1. Estas condiciones incluyen:

• reducción a un mínimo de las variaciones debidas al observador
• el misma procedimiento de medición
• el mismo observador
•el mismo equipo de medición, utilizado bajo las mismas condiciones
• el misma lugar
• repetición en un penado corto de tiempo

2. La repetibilidad puede expresarse cuantitativamente en términos de las características de dispersión de los resultadas

Proximidad de concordancia entre los resultados de mediciones del mismo mensurando realizadas bajo condiciones variables de medición.
Reproduibilidad de los resultados de las mediciones:
Proximidad de concordancia entre los resultados de mediciones del mismo mensurando realizadas bajo condiciones variables de medición.
Notas:
1. Una expresión válida de reproducibilidad requiere que se especifiquen las condiciones que variaron.
2. Las condiciones que variaron pueden incluir:
principio de medición
método de medición
observador
instrumento de medición
patrón de referencia
lugar
condiciones de uso
tiempo
3. La repetibilidad puede ser expresada cuantitativamente en términos de las características de dispersión de los resultados
4. Los resultados aquí considerados son habitualmente los resultados corregidos.
• Error aleatorio: Resultado de una medición menos la media que resultaría de un número infinito de mediciones del mismo mensurando realizadas bajo condiciones de repetibilidad.
Notas:
1. El error aleatorio es igual al error menos el error sistemático.
2. Puesto que solo se puede realizar un número finito de mediciones, es posible determinar solo un estimado del error aleatorio.
• Error sistemático: Media que resultaría de un número infinito de mediciones del mismo mensurando realizadas bajo condiciones de repetibilidad menos un valor verdadero del mensurando.
Notas:
1. El error sistemático es igual al error menos el error aleatorio.
2. De forma parecida al valor verdadero, el error sistemático y sus causas no son completamente
3. Para un instrumento de medición, véase «error de ajuste»
4. El error sistemático es el que afecta básicamente la incertidumbre de las mediciones.

Factor de corrección: Factor numérico por el cual se multiplica el resultado no corregido de la medición para compensar un error sistemático. Nota: Puesto que el error sistemático no puede ser conocido perfectamente, la compensación no puede ser completa.
División de escala: Parte de una escala comprendida entre dos marcas sucesivas.
• Valor de un división de escala: Escalón, Diferencia entre los valores correspondientes a dos marcas sucesivas de la escala.
Nota: El valor de la división se expresa en unidades marcadas sobre la escala, independientemente de las unidades del mensurando.
Clase de exactitud: Clase de instrumentos que satisfacen ciertos requisitos metrológicos destinados a mantener los errores dentro de ciertos límites especificados.
Nota: Una clase de exactitud es usualmente indicada por un número o símbolo adoptado por convención y denominado índice de clase.
Error máximo permisible: Valores extremos de un error permitido (tolerado) por las especificaciones, regulaciones, etc. para un instrumento de medición determinado.
• Calor: Forma de energía cinética, la energía molecular que posee un cuerpo.
• Temperatura: magnitud fundamental del SI
• Termómetro: Dispositivo de medición para medir la intensidad de calor.
• Punto de hielo: estado en que un liquido cambia de liquido a solido.
• Punto de vapor: estado en que un liquido cambia de liquido a gaseoso.
• Punto triple:es aquel en el cual coexisten en equilibrio el estado sólido, el estado líquido y el estado gaseoso de una sustancia. Se define con una temperatura y una presión de vapor.
• Cero absoluto: temperatura mas baja que existe.
cuidados en el uso de un calibrador

Habrá que tener en cuenta las recomendaciones del fabricante y seguir los pasos que se indican en el manual del equipo.
Cuando se usa el calibrador, la superficie de la escala se toca a menudo con la mano, por la tato despues de usarlo limpie la herraminta frotandola con un trapo, y aplique un fliudo lubricante a las superficies deslizantes antes de colocar el instrumeto en su estuche.
Tener cuidado de poner ningún peso encima del calibrador, podria torcer la regleta.
No golpee las puntas, ni las utilice como martillo.
No lo exponga a la luz directa del sol.
Almacenelo en un lugar libre de polvo.
Deje las caras separadas de 0,2 a 2 mm.
No fije el cursor.
Almacenelo en su estuche original
Almacenelo en un lugar ventilado con baja humedad.
no lo utilecen en piezas en movimiento.
utilice guantes.


Cuidados en el uso de un micrometro
Habrá que tener en cuenta las recomendaciones del fabricante y seguir los pasos que se indican en el manual del equipo.
El mantenimiento adecuado del micrómetro es esencial, antes de guardarlo, no deje de limpiar las superficies del husillo, yunque, y otras partes, removiendo el sudor, polvo y manchas de aceite, después aplique aceite anticorrosivo.
No olvide limpiar perfectamente las caras de medición del husillo y el yunque.
Asegurese de sostener de manra correcta el instrumento.
utilice el trinquete para evitar exceso de fuerza.
evite utilizar el freno de no ser necesario.
No levante el micrómetro con el objeto sostenido entre el husillo y el yunque.
No gire el mango hasta el límite de su rotación, no gire el cuerpo mientras sostiene el mango.
utilice guantes.



Cuidados en el uso de un proyector de perfiles
No obstante, es necesario seguir una serie de recomendaciones generales como:

No tocar nunca las superficies tales como espejos, lentes, etc.

No abrir las proyecciones de las lentes (deben ser tratadas muy cuidadosamente), ya que, dicha acción tendría efectos adversos sobre la precisión

La pieza mesurando debe estar libre de polvo y suciedad y debe depositarse cuidadosamente sobre el cristal de la mesa micrométrica

El interruptor principal debe estar OFF antes de conectar o desconectar el enchufe a la red principal

Seleccionar la lente adecuada para cada amplificación en función de la precisión requerida.

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