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Microscopia Electronica de Barrido - SEM (EDS / EDX)

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by

Jonathan Loaiza

on 17 May 2014

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Transcript of Microscopia Electronica de Barrido - SEM (EDS / EDX)

Microscopia Electrónica de Barrido - SEM (EDS / EDX)
Liliana Alexandra Ceballos Rivera
Jhonatan Alexander Loaiza Mejia
Carlos Andres Torres Velasquez

MICROSCOPIA ELECTRÓNICA
El microscopio electrónico permite estudiar el diminuto mundo de las células, así como la estructura atómica de la materia. Además es un instrumento importante en la investigación que nos permite caracterizar materiales orgánicos, e inorgánicos.
VENTAJAS Y DESVENTAJAS
Análisis morfológico superficial
Análisis morfológico y químico
Media y alta resolución hasta 500,000 X de magnificación y 1 nm de resolución.
Análisis elemental por EDS
Determinación de espesores de recubrimientos
Análisis de falla de materiales en general.
Determinación elemental de contaminantes en materiales sólidos
Mapas de Rayos-X en imagen de electrones
Estudio de interfase en materiales
Determinación de textura en materiales cristalinos
Comparación morfológica y de composición química de materias primas, materiales, productos finales, etc.
FUNCIONAMIENTO Y COMPOSICIÓN
SEM (del ingles
Scanning Electron Microscopy) utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de la superficie de un objeto,
permite una media y alta resolución de 1nm de magnificación (Nova NanoSEM200), se caracteriza por arrojar imágenes en escala tridimensional, formación de imágenes a partir de electrones secundarios
(SEI - Secundary Electron Image)
y a su vez transmite Rayox X
(EDS o EDX Energy Disperse Spectrometer)
debido al rebote del Haz de Electrones que llegan a la muestra.
Cañon de Electrones
Lente magnética condensadora.
Bobina de Barrido: Obligan al haz barrer la muestra
Absorción y robote de ES y RX
Transmisión de ES y RX a un colector de electrones
Proyección de imagen en cinescopio de TV


Los Microscopio de Barrido Tienen una Composición Básica de:
- Plomo
- Aluminio
- Filamentos de Wolframio (W)
Haz de electrones en cada punto de la muestra
¿DUDAS?
¡MIL GRACIAS!
---> Tungsteno o Wolframio (W)
CAMPOS DE APLICACIÓN
El SEM puede estar equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: un detector de electrones secundarios para obtener imágenes de alta resolución SEI (Secundary Electron Image), un detector de electrones retrodispersados que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de energía dispersiva EDS (Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis e imágenes de distribución de elementos en superficies pulidas.
Proporciona información acerca de la composición química de las partículas ya que cuando la muestra es irradiada con un haz de electrones se generan rayos X que pueden ser detectados.
Energía dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer)
Se deben tener muestras secas y conductoras, se usan muestras solidas inorgánicas y orgánicas.
El proceso de secado debe hacerse acabo preservando al máximo la estructura original de la muestra.

AUSENCIA TOTAL DE LÍQUIDO
LIMPIEZA
RECUBRIR CON UN MATERIAL CONDUCTOR
PEGADO EN EL PORTAMUESTRAS
PREPARACION DE LA MUESTRA
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